过温检测IC ThermoflaggerTM的应用电路（TCTH021AE／推挽型）

该参考设计提供了过温检测IC ThermoflaggerTM应用电路（TCTH021AE／推挽型）的设计指南、数据和其他内容。与PTC热敏电阻结合使用，ThermoflaggerTM可用于检测设备内多个位置的过温。此参考设计还提供了ThermoflaggerTM其他应用电路的详细信息。

PCB照片（示例）
PCB照片（示例）
TCTH021AE TCTH021AE SSM3K35MFV SSM3K35MFV SSM3J35AMFV SSM3J35AMFV

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特点

  • 简单的过温检测解决方案
  • 外形尺寸：85mm×54mm
  • 可与多个PTC热敏电阻结合使用

说明

电路拓扑 过温检测IC ThermoflaggerTM的应用电路
电路 过温检测电路、光检测电路、压力检测电路

Design Documents

Materials for designers, such as an overview of circuit operation and explanations of design considerations. Please click on each tab to view the contents.

Design Data

Provides circuit data that can be loaded into EDA tools, PCB layout data, and data used in PCB manufacturing. Available in formats from multiple tool vendors. You can freely edit it with your preferred tool.

东芝产品

器件型号 器件目录 搭载部位・数量 说明
过温检测IC 检测IC 10μA，推挽型，过温检测IC
小信号MOSFET 低边开关 N沟道MOSFET，20V，0.18A，3.0Ω@4V，SOT-723(VESM)
小信号MOSFET 高边开关 P沟道MOSFET，-20V，-0.25A，1.4Ω@4.5V，SOT-723(VESM)

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