过温检测IC ThermoflaggerTM的应用电路（TCTH021AE／推挽型）

该参考设计提供了过温检测IC ThermoflaggerTM应用电路（TCTH021AE／推挽型）的设计指南、数据和其他内容。与PTC热敏电阻结合使用，ThermoflaggerTM可用于检测设备内多个位置的过温。此参考设计还提供了ThermoflaggerTM其他应用电路的详细信息。

PCB照片（示例）
TCTH021AE TCTH021AE SSM3K35MFV SSM3K35MFV SSM3J35AMFV SSM3J35AMFV

Click on components for more details

特点

  • 简单的过温检测解决方案
  • 外形尺寸：85mm×54mm
  • 可与多个PTC热敏电阻结合使用

说明

电路拓扑 过温检测IC ThermoflaggerTM的应用电路
电路 过温检测电路、光检测电路、压力检测电路

设计文档

设计文档包括下列文档。

设计数据

设计数据包括下列内容。

*1:实际PCB在CR5000BD上设计。其他文件由CR5000BD文件生成。

*2:数据在CR5000BD上生成。

东芝产品

器件型号 器件目录 搭载部位・数量 说明
过温检测IC 检测IC 10μA，推挽型，过温检测IC
小信号MOSFET 低边开关 N沟道MOSFET，20V，0.18A，3.0Ω@4V，SOT-723(VESM)
小信号MOSFET 高边开关 P沟道MOSFET，-20V，-0.25A，1.4Ω@4.5V，SOT-723(VESM)

相关文档

相关参考设计

过温检测IC Thermoflagger<sup>TM</sup>的应用电路（TCTH021BE／开漏型）

联系我们

技术咨询

联系我们

联系我们

常见问题

常见问题（FAQ）
在新窗口打开