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About information presented in this cross reference

The information presented in this cross reference is based on TOSHIBA's selection criteria and should be treated as a suggestion only. Please carefully review the latest versions of all relevant information on the TOSHIBA products, including without limitation data sheets and validate all operating parameters of the TOSHIBA products to ensure that the suggested TOSHIBA products are truly compatible with your design and application.
Please note that this cross reference is based on TOSHIBA's estimate of compatibility with other manufacturers' products, based on other manufacturers' published data, at the time the data was collected.
TOSHIBA is not responsible for any incorrect or incomplete information. Information is subject to change at any time without notice.

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如何使用光耦检查

第4步:检查每个设计常数
考虑工作温度、速度、使用寿命设计、电阻公差等是否具有足够的裕度。

如何使用光耦检查

温度范围 ⇒ VF,CTR,允许电流等。

负载电阻 ⇒ 开关速度,暗电流的影响等。

允许电流
允许电流
CTR-Ta
CTR-Ta
暗电流
暗电流
开关时间-RL
开关时间-RL

确认器件使用寿命

光耦的输入LED光输出会随着时间的推移而减弱。

必须确认特性满足要求,同时必须考虑器件在使用寿命目标期间的退化趋势。

光耦的老化变化可以根据输入电流(IF)和环境温度来计算。

 

确认器件的使用寿命

第Ⅴ章:隔离器/固态继电器

光半导体的类型
LED的发光原理
LED的波长范围
什么是光耦?
为什么需要光耦?
光耦的类型
光耦的类型(封装)
光耦的类型(内部结构)
光耦的安全标准
光耦的特性(电流传输比:CTR)
光耦的主要特性(触发LED电流)
光耦的老化变化数据
如何使用光耦
如何使用光耦“输入电流”
如何使用光耦“输出电流”
如何使用光耦“输出侧电阻器”

相关信息

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