静电放电(ESD)测试用来检测IC和电子设备的ESD耐受性。ESD测试大致分为器件级测试和系统级测试。这些合格/不合格检测只是确定被测设备(EUT)是否受到ESD损坏。
现在,IC和ESD保护器件数据表提供了短脉冲条件下ESD保护电路传输线脉冲 (TLP) I-V曲线。TLP I-V曲线有助于评估系统的ESD耐受性,并在不损坏DUT的情况下选择正确的ESD保护二极管.。
这类测试称为TLP测试。东芝新款ESD保护二极管的数据表也包含TLP I-V曲线。请参阅FAQ“什么是TLP测试?”
什么是TLP测试?
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