如何选择ESD保护二极管?

在选择用于通用接口的ESD保护二极管时,应考虑系统正常工作状态和ESD保护要求。下面简要说明如何选择ESD保护二极管。稍后详细介绍选择过程。

  1. 系统正常工作,无ESD进入
    ESD保护二极管在系统正常工作期间不执行任何操作,不应影响受保护的信号线。
    • 选择反向工作峰值电压(VRWM)高于受保护线路最大电压的ESD保护二极管。
    • 单极性正信号选择单向ESD保护二极管,双极性信号线选择双向ESD保护二极管。
    • 选择总电容(CT)适合受保护信号线频率的ESD保护二极管。
  2. ESD导致过大电压或电流进入电路板。
    将ESD能量降低降低到不损坏受保护器件 (DUP) 的水平至关重要。
    • 选择具有低钳位电压(VC)的 ESD 保护二极管。
    • 选择低动态电阻(RDYN)的 ESD 保护二极管。

摩擦电序中相互远离的两种不同材料紧密接触,往往获得正电荷或负电荷。两种材料在一起摩擦时,一种材料失去电子带正电,另一种获得电子带负电。(请参阅FAQ“什么是静电放电(ESD)?”)
什么是静电放电(ESD)?

当带电物体接触电子设备连接器时,电荷瞬间释放电流脉冲。这种现象称为静电放电(ESD),类似电容放电。

图1显示IEC 61000-4-2标准ESD波形,即众所周知的ESD仿真波形。如图所示,ESD电流在大约1 ns时间内急剧上升至30 A。

图1:ESD测试波形示例(IEC 61000-4-2,8 kV)
图1:ESD测试波形示例(IEC 61000-4-2,8 kV)

进入电路板的ESD能量取决于发射端输出阻抗(即材料电阻率)和接收端输入阻抗。然而, ESD浪涌电压和电流比正常工作期间的信号高得多。因此,ESD冲击可能造成系统内部器件故障或损坏。
灾难性故障有几种模式。以下是半导体损坏的三个示例:

  • 高电压故障:电压高于栅氧击穿强度导致电介质击穿形成短路
  • 高电流故障:半导体器件中电阻和导线电流过大造成开路
  • 高电压和高电流故障:ESD能量导致pn结损坏造成短路

一般情况下,对ESD敏感的IC包含ESD保护电路。这样做的目的是保护电子制造设备中的IC免受ESD的影响。因此,内部ESD保护电路可在ESD受控环境下提供器件级保护。日常系统级ESD能量高于内部电路保护能力。(关于器件级和系统级ESD说明,请参阅FAQ“静电放电 (ESD) 测试”。)
为防止系统级ESD,信号线和GND接地之间可连接外部ESD保护二极管,如图2所示。可能成为ESD进入点的信号线需要ESD保护二极管,包括连接器和触摸传感器外露I/O端口,以及连接天线的VIN线路。

图2:ESD保护二极管插接示例
图2:ESD保护二极管插接示例

仅仅增加ESD保护二极管是不够的,重要的是,根据受保护信号线和电路情况选择正确的ESD保护二极管。此外,需要优化ESD保护二极管的布局,以获得最佳保护性能。关于ESD保护二极管的布局,请参阅FAQ“TVS二极管(ESD保护二极管)的电路板设计注意事项”。
TVS二极管(ESD保护二极管)的电路板设计注意事项

下面讨论这个“FAQ”章节开头描述的正常工作和ESD保护所需的电气特性。

  1. 系统正常工作状态(无ESD事件)
  2. ESD导致过高电压或电流进入电路板
  1. 系统正常工作状态(无ESD事件)
    确保ESD保护二极管不影响其连接的信号线和控制线的信号完整性十分重要。理想情况下,ESD保护二极管应在关断状态下打开(高阻态),但实际上并非如此。ESD保护二极管是一种由pn结组成的齐纳二极管。因此,即使关断状态下,也会有少量漏电流(反向电流,IR)流过二极管。IR随着反向偏压提高,接近反向击穿电压VBR(齐纳电压)。因此,IR可能是一个问题,取决于系统的规格要求。
    IR是二极管在规定的反向电压下流过的电流,如图3所示。IR因二极管而异,从0.05 μA到2.5 μA 。对于ESD保护二极管,IR按工作峰值反向电压(VRWM)定义。 
    1.   假设DUP的输出连接一支47 kΩ上拉电阻。那么,在ESD保护二极管IR为2.5 μA的情况下,上拉电阻会导致信号线电压下降118 mV。由于DUP施加的电压高于VRWM会造成电流呈指数增长,因此,受保护信号线的最大电压必须低于ESD保护二级管的VRWM
图3:ESD保护二极管的电流-电压 (I-V) 曲线(电气特性定义)
图3:ESD保护二极管的电流-电压 (I-V) 曲线(电气特性定义)
图4:受保护信号线与V<sub>RWM</sub>之间的关系
图4:受保护信号线与VRWM之间的关系

对于双极性信号来说,应选择双向ESD保护二极管。这种情况下,受保护信号线的最小和最大电压必须低于VRWM。(关于双向ESD保护二极管,请参阅以下FAQ。)
FAQ:是否有必要使用双向TVS二极管(ESD保护二极管)来防止正向和负向ESD事件?  

图5:根据信号频率选择总电容
图5:根据信号频率选择总电容

二极管关闭时,pn结形成耗尽区。耗尽区可看作外部电容。因此,ESD保护二极管的总电容(CT)定义为耗尽区电容和寄生电容之和。为保护高频信号线,必须选择总电容低的ESD保护二极管。图5可作为选择具有相应总电容的ESD保护二极管的指南。
关于耗尽区电容,请参阅以下e-learning内容。
e-learning: 可变电容二极管(变容二极管)

2. 当ESD产生过高电压或电流进入电路板时
ESD保护二极管应在ESD进入时导通,抑制电压浪涌,从而降低施加到DUP的电压。因此,必须选择低钳位电压(VC)ESD保护二极管,同时考虑正常工作期间VRWM的限制。
下面,我们来看DUP的工作状态。
如上所述,ESD敏感器件包含ESD保护电路。图6显示两个pn结二极管组成的ESD保护电路示例。

图6:内部ESD保护电路与外部ESD保护二极管
图6:内部ESD保护电路与外部ESD保护二极管

参见图7。当施加到VIN 的信号或ESD电压电平超过电源电压 (VDD) 和二极管正向电压 (VF) 之和,或低于GND – VF以下时,内部ESD保护二极管导通,抑制输入电压。内部ESD保护电路用于器件级ESD保护。施加的ESD电压高于钳位电压可能导致DUP故障或损坏。图7中的红点表示阈值,超过该阈值DUP被ESD损坏。

图7:内部ESD保护电路I-V曲线
图7:内部ESD保护电路I-V曲线

图8显示外部ESD保护二极管I-V曲线。(注:图中正向表示反向电压(VR),以匹配IC内部保护二极管的方向。)ESD保护二极管在反向击穿电压(VBR)下进入反向导通模式,在正向电压(VF)下进入正向导通模式。

图8:ESD保护二极管I-V曲线
图8:ESD保护二极管I-V曲线
图9:具有不同钳位电压(V<sub>C</sub>)的产品A和产品B
图9:具有不同钳位电压(VC)的产品A和产品B

与IC内部保护电路不同,ESD保护二极管具有低动态电阻 (RDYN),造成二极管电流正向和反向急剧上升。低动态电阻意味着钳电压变化很小。因此,即使ESD电击能量大的情况下,施加到DUP的电压也不会有很大变化。(这意味着ESD保护二极管的保护性能没有显著变化。)
低动态电阻是由于反向偏置齐纳击穿(或雪崩击穿),以及结区宽并采用专门制造工艺实现二极管电流陡升。
我们看一下ESD保护二极管钳位电压。
假设受保护信号线的电压介于0 V与VDD之间。因此,ESD保护二极管的VRWM 必须大于VDD。图9显示具有不同钳位电压 (VC),满足这种要求的两支ESD保护二极管(产品A和产品B)假设产品A的钳位电压 (VC_A) 低于产品B (VC_B)。ESD进入后,DUP外部ESD保护二极管和内部ESD保护电路都导通。它们导通时的信号线电压主要取决于外部ESD防护二极管。

从图中可以看到,产品B导通电压和电流高于损坏点。因此,产品B不能用来保护DUP。
图10图显示两个不同钳位电压产品的ESD钳位电压波形。 

图10:ESD钳位电压波形比较
图10:ESD钳位电压波形比较
图11:不同动态电阻(V<sub>DYN</sub>)的产品A和产品C
图11:不同动态电阻(VDYN)的产品A和产品C

低钳位电压ESD保护二极管有助于提高系统安全性。
接下来,我们来看两支钳位电压相同,动态电阻RDYN不同的ESD保护二极管(产品A和产品C)。
其中,RDYN_A < RDYN_C
图11显示,在大电流区(即电压高于钳位电压VC的区域),流入外部ESD保护二极管的电流多于流入DUP内部保护二极管的电流。相同电流对比,内部保护二极管两端电压低于外部ESD保护二极管两端电压。也就是说,ESD保护二极管有助于减少ESD电击对DUP产生的应力。因此,如果两个ESD保护二极管钳位电压相同,则建议选择低动态电阻的二极管。

相关链接

关于TVS二极管(ESD保护二极管)产品,请参考以下链接。

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