新型TO-247-4L封装600V超结功率MOSFET(DTMOSⅣ-H系列)的商业化

四引脚TO-247-4L封装采用Kelvin连接的信号源端子进行栅极驱动,可以降低封装内电源线电感的影响,从而进一步提高MOSFET芯片的高速开关性能。
这有助于提高大中型高效率开关电源的效率(相当于80PLUS※1 的钛金/铂金级电源效率)。

※1:基于电源效率80%或以上的AC-DC转换,提出了电源节能指令80PLUS

TO-247 vs TO-247-4L(封装外部尺寸比较)
TO-247 vs TO-247-4L(封装外部尺寸比较)

TO-247-4L封装的优点

随着DTMOS速度和电流的增加,封装内电源线的电感分量将影响封装的高速开关能力。通过提供用于栅极驱动的信号源端子,可以分离电源线中的电流和栅极驱动线中的电流,以减小栅源电压电感的影响。

3引脚封装的结构 (TO-247)

对于>3引脚的封装(TO-247)

反电动势VLS(=LS*dID/dt)由源极电源线的电感分量L和漏极电流斜率dI dID/dt产生,电压VGS的是施加在FET芯片的栅极和源极漏极。这个反电动势将实际施加的电压从设定的栅极电压降低,且开关速度特别是开通速度将会减慢。

4引脚封装结构(TO-247-4 L)

对于>4引脚的封装(TO-247-4L)

移动驱动侧的源端,使其从靠近场效应晶体管芯片的位置,与负载侧的源线分离,这样使其不易受到驱动电压的影响。这就提高了FET芯片的高速开关性能。

通过TO-247-4L降低开通损耗

当我们观察MOS附近的栅源电压波形时,我们证实通过L源缩短了TO-247-4L封装的工作时间。在实际测量中,我们确认TO-247-4L封装(器件型号:TK62Z60X)的开通损耗比TO-247封装(器件型号:TK62N60X)的接通损失减少了19%。

对于降低开通损耗的效果,我们在仿真和实际测量中都证实了开关速度的提高。

仿真电路模型
仿真电路模型
开通波形(仿真)
开通波形(仿真)
开通波形(测定)
开通波形(测定)

TO-247-4L封装的MOSFET

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