构建效率更高的DC-DC转换器:300 W隔离式DC-DC转换器的效率评估和损耗分析

在DC-DC转换器的设计中效率非常重要,而功率MOSFET的使用会显着影响效率。副边同步整流器MOSFET的选择是提升效率的一个关键因素。

简介

本文重点讨论确定实现更高效率所需的副边MOSFET的特性。使用了评估电路研究直接测量结果(如图1所示),随后将测量结果与高精度仿真结果进行比较,以确定主要的损耗来源。

图1:用于研究300 W DC-DC转换器副边损耗的物理评估电路。
图1:用于研究300 W DC-DC转换器副边损耗的物理评估电路。

第1章:设法提高效率

更高效率的追求在大多数电源应用中占主导地位,包括DC-DC转换器。效率的定义如下:

效率=(Vout×Iout)/(Vin×Iin)×100[%]

不同的设计决策会影响效率和损耗,其中最主要的选择就是原边和副边的MOSFET选择,这占隔离式DC-DC转换器电路损耗的40%以上。

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第2章:评估板设计

图2:简化后的隔离式DC-DC转换器电路
图2:简化后的隔离式DC-DC转换器电路

我们制作了一个300 W DC-DC转换器评估板,以深入了解相关损耗。简化电路图如图2所示。

在此电路中,原边(输入侧)作为输入端,有两个桥臂和四个开关器件(TR1、TR2、TR3和TR4)。副边(输出侧)有两个器件(TR5和TR6)。这些部分均用于同步整流。此外,还有一个输出平滑滤波器,其电容为C2,电感为L2。输入电压为Vi,输出负载为RL,Vsync1和Vsync2分别为TR6和TR5的漏极电压。请注意,TR5和TR6有两个并联的MOSFET。

该转换器采用移相全桥(PSFB)拓扑结构输出12V电压。输出电压通过TR1、TR2的一个支路与TR3和TR4的一个支路之间的移相操作进行调节,占空比为50%。为防止高边MOSFET与低边MOSFET之间的死区时间出现击穿,通过实现零电压开关(ZVS),降低功率转换器的开关损耗。

表1显示了300 W DC-DC转换器的输入和输出特性。

表1显示了300W DC-DC转换器的输入和输出特性。

表2总结了八种工作模式。图3和图4中用蓝色和红色虚线表示每种模式下的电流流向。

图2:工作模式
图3:工作模式1-4
图3:工作模式1-4
图4:工作模式5-8
图4:工作模式5-8
图5:与所有八种工作模式相关的波形
图5:与所有八种工作模式相关的波形

图5总结了与所有八种工作模式相关的波形。在这些简化波形中,主要介绍了以下内容:开关器件TR1至TR6的栅极电压(VG)和漏极电流(ID)、TR5和TR6的漏源电压(Vsync1、Vsync2),以及电感L2的两个端子间的电压(VL2)和电流(IL2)。由于电流从源极流向漏极,因此通过TR5和TR6的电流表示为负值。

第3章:效率评估和损耗分析

图6:用于效率测量的设置
图6:用于效率测量的设置

效率计算公式如下:

效率=(Vout×Iout)/(Vin×Iin)×100[%]

图6显示了用于评估300W隔离式DC-DC转换器电路效率的设置。在以下条件下测量两种模式的开关器件组合的Vin、Iin、Vout和Iout:Vin=48 V,Vout=12 V,Ta(环境温度)=25 °C,Iout为1 A、3 A、5 A、7 A、10 A、14 A、16 A、18 A、20 A、25 A。使用位于电路板附近的冷却风扇对DC-DC转换器电路板进行强制风冷。

将TPN1200APL作为原边MOSFET和两个不同的副边MOSFET(TR5和TR6)进行该评估:东芝TPH2R408QM和A公司的等效MOSFET。关于所有规格的详细信息,详见应用说明第9页。选择TPH2R408QM MOSFET是因为与其他同类产品相比,其漏源导通电阻(1.9 mΩ)和反向恢复电荷(74 nC)更低。

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第4章:副边开关对电源转换效率的影响

图7:效率曲线
图7:效率曲线

图7(a)至(c)比较了使用TPH2R408QM和A公司的MOSFET的效率曲线。正如预期的那样,TPH2R408QM在中型和重型负载中表现出最高的效率水平,因为导通损耗是这类负载的主要损耗因素。此外,TPH2R408QM的漏源导通电阻较小。输出负载为16A时的最高效率为94.83%,满负载为25 A时的最高效率为94.12%。

相比之下,A公司的MOSFET漏源导通电阻比TPH2R408QM大约高出16%,输出负载为16 A时的效率为94.65%,满负载为25 A时的效率为93.89%。

图8显示了两种MOSFET器件温度与输出电流之间的关系。请注意,TPH2R408QM的温度始终低于45 °C,表明其发热量小于A公司生产的MOSFET。

图8:温度对比
图8:温度对比

第5章:损耗分析仿真

图9:损耗分析电路
图9:损耗分析电路

使用仿真电路进行损耗分析,该电路具有专为损耗分析设计的高精度器件模型。评估板使用的是移相全桥PWM控制器IC,而该仿真电路使用的是根据电压和电流传感进行反馈的替代控制模型。仿真电路如图9所示。变压器和电抗器基于测量结果。有关仿真设计的更多详情,请参阅应用说明。

图10:损耗计算时间图
图10:损耗计算时间图

仿真验证后,执行了与副边MOSFET损耗定义相关的结果。图10显示了如何定义I和V、副边MOSFET的时间图,以及如何根据时间图计算每种形式的损耗。每个损耗部分都基于一个时段,共计算出六种损耗。

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第6章:哪种MOSFET性能最佳?

图11:按损耗类型分组的副边MOSFET损耗分析结果
图11:按损耗类型分组的副边MOSFET损耗分析结果

TPH2R408QM副边MOSFET的损耗分析结果见图11。主要的损耗形式为体二极管的恢复损耗(对电流不敏感)和导通损耗(Esync),后者随输出电流相应增大。这表明具有低恢复电荷和低漏源导通电阻的MOSFET是最有效的选择。

第7章:优化效率:探索副边MOSFET

隔离式DC-DC转换器电路副边MOSFET的选择对整体效率至关重要。东芝可提供强大的功率MOSFET产品线,涵盖30V至250V的各种VDSS,以及每个VDSS类别中的各种漏源导通电阻类型。通过参考设计材料指南,了解有关使用东芝低恢复电荷和低漏源导通电阻MOSFET设计高效DC-DC转换器的更多详情。

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