标准数字隔离器“DCL54x01”的隔离寿命有多长?

隔离寿命

东芝标准数字隔离器的结构是利用芯片内的氧化膜进行绝缘。 因此,可通过应用与MOSFET栅极氧化层随时间击穿相同的概念(TDDB:与时间相关的电介质击穿[注1])来预测标准数字隔离器的隔离寿命。
“用于基本隔离和加强隔离的磁耦合器和电容耦合器”[注2]已由国际安全标准标准化,标准号为IEC 60747-17: 2020(第1版)和VDE V 0884-11,并规定了上述TDDB的测试条件。

DCL54x01系列符合VDE V 0884-11标准,应用增强隔离至最大工作隔离电压VIORM=1.0kVrms[注3]。在1.2kVrms条件下进行TDDB测试,安全系数(1.2)乘以加强隔离所需的上述VIORM。此外,在加强隔离所需的1ppm不良率外推线上,1.2kVrms条件下的寿命确定点为37.5年[注4].
作为参考,除了测试上述VDE认证所需的最短额定寿命外,我们预测在测试电压的加速条件下,隔离寿命为70年或更长,超过了VDE规格。

[注1]请参考东芝的半导体考靠性手册(18.4MB)。

[注2]请购买标准文件并查看规格。

[注3]截至2023年3月,DCL541L01、DCL541H01、DCL542L01和DCL542H01的VDE批准仍在办理之中。

[注4]额定寿命20年的安全系数乘以1.875后得到该值。

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