对于在设计设备时集成了LED器件的光耦和光继电器，应考虑以下事项：LED寿命或光电检测器寿命？

 在光耦中，主要影响为LED（而非光电检测器）会随着时间的推移而出现老化。随着LED发光的时间增加，LED的光输出劣化。因此，利用在用LED随时间劣化的相关数据，可估计光输出下降率。在设计电路时，根据要使用设备的使用环境以及总的发光时间来计算光输出的变化率，并反映在LED初始正向电流（I_F）的初始值中。
有关详情，另见东芝应用说明《Basic Characteristics and Application Circuit Design of Transistor Couplers》第2-4节“Design Example for Interface Circuit Using Transistor Coupler”。
（https://toshiba.semicon-storage.com/cn/semiconductor/knowledge/application-note.html）