该参考设计提供了过温检测IC ThermoflaggerTM应用电路(TCTH021AE/推挽型)的设计指南、数据和其他内容。与PTC热敏电阻结合使用,ThermoflaggerTM可用于检测设备内多个位置的过温。此参考设计还提供了ThermoflaggerTM其他应用电路的详细信息。
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电路拓扑 | 过温检测IC ThermoflaggerTM的应用电路 |
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电路 | 过温检测电路、光检测电路、压力检测电路 |
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器件型号 | 器件目录 | 搭载部位・数量 | 说明 |
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过温检测IC | 检测IC | 10μA,推挽型,过温检测IC | |
小信号MOSFET | 低边开关 | N沟道MOSFET,20V,0.18A,3.0Ω@4V,SOT-723(VESM) | |
小信号MOSFET | 高边开关 | P沟道MOSFET,-20V,-0.25A,1.4Ω@4.5V,SOT-723(VESM) |
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