东芝推出高速导通小型光继电器，可缩短半导体测试设备的测试时间
2025年2月20日
东芝电子元件及存储装置株式会社
中国上海——东芝电子元件及存储装置株式会社（“东芝”）今日宣布，最新推出采用S-VSON4T[1]封装的光继电器—— "TLP3414S”和“TLP3431S"，具有比东芝现有产品更快的导通时间[2]。TLP3414S与TLP3431S的断态输出端电压和通态电流额定值分别为40 V/250 mA和20 V/450 mA。该产品于今日开始支持批量出货。
新型光继电器通过提高输入侧红外LED的光输出并优化光电探测器（光电二极管阵列）的设计，可实现高效的光耦合，将导通时间最大值缩短至150 μs。TLP3414S的导通时间比东芝现有产品TLP3414缩短约50%，TLP3431S的导通时间比东芝现有产品TLP3431缩短约62%。
此外，当输出打开时，这两款产品的导通电阻会影响信号衰减（TLP3414S：最大值3 Ω，TLP3431S：最大值1.2 Ω）；当输出关闭时，输出电容会影响高频信号泄漏（两款产品均为典型值6.5 pF）。新产品与东芝现有产品[2]相当，确保了稳定的信号传输。
新产品适用于半导体测试设备中的引脚电子[3]应用，可在开关信号的同时以高精度高速测量待测设备（DUT）。
新产品由于采用小型S-VSON4T封装，与东芝现有产品的VSON4封装[4]相比表贴面积减少了约20%，有助于实现半导体测试设备和其他设备的小型化。
东芝将继续提供更多高性能产品，以满足半导体测试设备对更高性能和更快速度的需求。
注：
[1]S-VSON4T封装：1.45 mm×2.0 mm（典型值）
[2]东芝现有产品TLP3414（额定值40 V/250 mA）和TLP3431（额定值20 V/450 mA），采用VSON4封装
[3]引脚电子（PE）：用于向待测设备（DUT）提供电源和测试信号，并判断DUT的输出信号的一种接口电路
[4]VSON4封装：1.45 mm×2.45 mm（典型值）
应用
- 半导体测试设备（高速存储器测试设备、高速逻辑测试设备等）
- 探测卡
- 测量设备
特性
- 高速导通时间：tON＝150 μs（最大值）
- 低导通电阻：
TLP3414S RON＝3 Ω（最大值）
TLP3431S RON＝1.2 Ω（最大值） - 小型S-VSON4T封装：1.45 mm×2.0 mm（典型值），厚度＝1.3 mm（典型值）
主要规格
（Ta＝25 °C）
| 器件型号 | TLP3414S | TLP3431S | ||
|---|---|---|---|---|
| 封装 | 东芝封装名称 | S-VSON4T | ||
| 尺寸（mm） | 1.45×2.0（典型值） ，厚度＝1.3（典型值） | |||
| 触点类型 | 1-Form-A （常开） |
|||
| 绝对最大额定值 | 断态输出端电压VOFF（V） | 40 | 20 | |
| 通态电流ION（mA） | 250 | 450 | ||
| 通态电流（脉冲）IONP（mA） | 750 | 1350 | ||
| 工作温度Topr（°C） | -40至10 | |||
| 隔离电压BVS （Vrms） | AC，60 s， R.H.≤60% |
500 | ||
| 耦合电气特性 | 触发LED电流IFT （mA） | 最大值 | 3 | |
| 导通电阻RON (Ω) | 典型值 | 2 | 0.8 | |
| 最大值 | 3 | 1.2 | ||
| 电气特性 | 输出电容COFF (pF) | 典型值 | 6.5 | |
| 开关特性 | 导通时间tON (μs) | 最大值 | 150[5] | |
| 关断时间tOFF (μs) | 100[5] | |||
| 库存查询与购买 |  |
|
||
注：
[5]TLP3414S的测试条件：RL＝200 Ω、VDD＝20 V、IF＝5 mA，TLP3431S：RL＝200 Ω、VDD＝10 V、IF＝5 mA
相关信息
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